美國Arizona大學Ampere A. Tseng教授來訪

　  2009年6月9日，應電分析化學國家重點實驗室李壯研究員的邀請，美國亞利桑那大學Ampere A. Tseng教授來我所進行學術訪問，做了題為“Nanofabrication Using Atomic Force Microscopy”的學術報告。

　  微納米加工是構建微納米器件的重要手段，原子力顯微鏡（AFM）具有納米尺度的測量和操縱能力，是進行物質表面形貌測定、納米加工的有力工具。利用AFM進行納米加工和構建，就是用AFM的針尖，或者在其上進行修飾，從而在不同的基底上進行加工刻蝕，制作不同的納米器件等。在報告中，Tseng從理論計算和加工的角度詳細介紹了他們研究組在該領域的研究進展。

　  1978年，Ampere A.Tseng在Georgia Institute of Technology獲得機械工程博士學位，迄今已發(fā)表250余篇學術論文，獲得9項美國專利。先后獲得Superior Performance Award of Martin Marietta Laboratories, RCA Service Award, Alcoa Foundation Research Award, and ASU 1999-2000 Faculty Award等獎項，編寫了10余部機械學方面的專論，并擔任10余種機械學雜志的編委?，F(xiàn)在美國亞利桑那大學機械與航空航天工程系任教授。

（楊 帆）