理解高分子體系宏觀性能的基礎(chǔ)是對(duì)其微觀結(jié)構(gòu)的準(zhǔn)確認(rèn)識(shí),表征高分子體系微觀結(jié)構(gòu)常見(jiàn)的手段包括以TEM, SEM, AFM等為代表的顯微學(xué)實(shí)空間方法和以X射線及中子散射與衍射為代表的倒空間方法。兩類(lèi)試驗(yàn)手段互相補(bǔ)充、印證,缺一不可。實(shí)空間手段因其結(jié)果直觀而受到歡迎致使人們往往忽略了其統(tǒng)計(jì)平均性差的缺點(diǎn),倒空間的手段盡管無(wú)法提供直接的微觀形貌,但其結(jié)果包含大量樣本的平均信息而受到重視。另外,近年來(lái)發(fā)展起來(lái)的同步輻射技術(shù)使得X射線散射實(shí)驗(yàn)可以達(dá)到甚至遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于高分子體系結(jié)構(gòu)形成與演化的時(shí)間尺度,這就使得實(shí)時(shí)在線的研究工作成為可能。通過(guò)幾個(gè)關(guān)于聚烯烴及高分子乳膠體系的結(jié)構(gòu)演化過(guò)程研究的例子,本報(bào)告重點(diǎn)講解小角散射的主要特點(diǎn)及其在表征高分子結(jié)構(gòu)演化方面的優(yōu)勢(shì),進(jìn)而為我們理解高分子體系宏觀行為提供依據(jù)。